|
|
|
|
|
    
|
高機能インサーキットテスト
WTX-3000CN-Cube詳細 |
 |
|
WILLTECHの WTX-3000CN-Cube は、測定部をコンパクトなBOX筺体に収納し、フレキシブルな生産ラインに対応する省スペース型インサーキットテスタです。
WTX-3000CN-Cube は従来のインサーキットテスタでは検出困難な BGA-IC およびコネクタのリード浮き不良検出を標準装備しており、プローブの先端精度を保証する
PGPフィクスチャにも適合可能です。さらにはテスタ稼働記録や自己診断記録の他、基板個別管理にてリワークステーションやデータログ保存によるトレーサビリティ等、品質管理機能も充実しています。 |
| 主な機能 |
| 機能区分 |
機能 |
仕様 |
| 制御部 |
パソコン |
WINDOWS 7 17"LCDモニタ |
| 適合プレスユニット |
電動プレス WPRS-315,WPRS-321
エアプレス WPRS-113 |
| 出力プリンタ |
チケットプリンタ(Option) |
| 測定ポイント |
最大実装ポイント |
2048pin 64pin/Board |
| 標準実装ポイント |
256pin |
| ショート・オープン |
NETパターン間 |
5Ω～10kΩ 印加電圧 50mV |
| Bus DIFF テスト |
ICリード浮き |
NETパターン接続抵抗10kΩ以上 |
| MAP-CN テスト |
BGA-IC端子浮き
コネクタリード浮き |
NETパターン接続抵抗33Ω以上 |
| コンポーネントテスト |
抵抗測定範囲 |
0.10Ω－160.0MΩ |
| コンデンサ測定範囲 |
1.00pF－160.0mF |
| コイル測定範囲 |
0.500μH－160.0H |
| インピーダンス測定 |
100Hz/1kHz/10kHz/100kHz |
| TR・D・ZD・デジTR・FET・PH |
電圧レンジ 0.10V～15.00V
電流レンジ 1.0μA～30.00mA |
| ガーディング |
5 points 30mA×5 |
| 極性判別 |
電解コンデンサ・コイル巻き始め |
| 一般仕様 |
電源電圧 |
AC100V（±10%） 300VA |
| 動作環境 |
温度 10℃～30℃ 湿度 30%～80% |
| 本体寸法(mm) |
500W×400D×540H 60kg |
| 直行率改善 |
プローブ接触不良改善 |
プローブ先端のワイピング機能 |
| 接触不良疑惑検出 |
プローブ接触不良検出 |
| 同一部品連続不良検出 |
同一部品、同一ピン番号 |
| 補助機能 |
ピンNET詳細表示 |
NET接続部品、合成値計算 |
| 不良部品位置表示 |
基板パターン画像表示 |
| ピン番号位置表示 |
基板パターン画像表示 |
| 品質管理 |
テストデータログ |
COMP,Bus DIFF,MAP-CN |
| 自己診断 |
電源・計測部・MPX部 |
| テスタ稼働記録 |
稼働時刻・プログラム変更時刻・自己診断時刻 |
| ネットワーク |
テストデータ転送 |
LAN通信 |
| リワーク環境 |
LAN通信 |
|
|
|
| |
All Rights Reserved Copyright (C)2013. Willtech Co., Ltd.. |
|
