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高機能インサーキットテスト
WTX-2000-Cube詳細 |
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WILLTECHの WTX-2000-Cube は、測定部をコンパクトなBOX筺体に収納し、フレキシブルな生産ラインに対応する省スペース型インサーキットテスタです。
WTX-2000-Cube はリード部品実装基板を対象にした高パフォーマンス機種で、プローブ接触不良を積極的に改善するバイブレーション機能や接触不良自動検出機能を標準装備していることを特徴としています。また不良判別部品の画面位置表示やテスタ稼働記録や自己診断記録、測定データログ等、品質管理機能も充実しています。 |
| 主な機能 |
| 機能区分 |
機能 |
仕様 |
| 制御部 |
パソコン |
WINDOWS 7 17"LCDモニタ |
| 適合プレスユニット |
電動プレス WPRS-315,WPRS-321
エアプレス WPRS-113 |
| 出力プリンタ |
チケットプリンタ(Option) |
| 測定ポイント |
最大実装ポイント |
2048pin 64pin/Board |
| 標準実装ポイント |
256pin |
| ショート・オープン |
NETパターン間 |
5Ω～10kΩ 印加電圧 50mV |
| Bus DIFF テスト |
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| MAP-CN テスト |
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| コンポーネントテスト |
抵抗測定範囲 |
0.10Ω－160.0MΩ |
| コンデンサ測定範囲 |
1.00pF－160.0mF |
| コイル測定範囲 |
0.500μH－160.0H |
| インピーダンス測定 |
100Hz/1kHz/10kHz/100kHz |
| TR・D・ZD・デジTR・FET・PH |
電圧レンジ 0.10V～15.00V
電流レンジ 1.0μA～30.00mA |
| ガーディング |
5 points 30mA×5 |
| 極性判別 |
電解コンデンサ・コイル巻き始め |
| 一般仕様 |
電源電圧 |
AC100V（±10%） 300VA |
| 動作環境 |
温度 10℃～30℃ 湿度 30%～80% |
| 本体寸法(mm) |
500W×400D×540H 60kg |
| 直行率改善 |
プローブ接触不良改善 |
プローブ先端のワイピング機能 |
| 接触不良疑惑検出 |
プローブ接触不良検出 |
| 同一部品連続不良検出 |
同一部品、同一ピン番号 |
| 補助機能 |
ピンNET詳細表示 |
NET接続部品、合成値計算 |
| 不良部品位置表示 |
基板パターン画像表示 |
| ピン番号位置表示 |
基板パターン画像表示 |
| 品質管理 |
テストデータログ |
COMP,Bus DIFF,MAP-CN |
| 自己診断 |
電源・計測部・MPX部 |
| テスタ稼働記録 |
稼働時刻・プログラム変更時刻・自己診断時刻 |
| ネットワーク |
テストデータ転送 |
LAN通信 |
| リワーク環境 |
LAN通信 |
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